gard |
|
![]()
Темы:
66
Сообщения:
1169
Участник с: 15 декабря 2009
|
В смарте есть параметр, показывающий сколько раз жесткий вырубался по питанию, у меня было такое, что в конечном итоге убило жесткий, там этот показатель просто нереально высок был. А все потому, что контакты в кабеле питания запали. Жесткий слышно было как раскручивается (включается) после рандомной потери питания. Вообще покажите смарт.. |
carter85 |
|
Темы:
74
Сообщения:
281
Участник с: 16 октября 2011
|
SMART Attributes Data Structure revision number: 16 Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds: ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE 1 Raw_Read_Error_Rate 0x000f 200 200 051 Pre-fail Always - 141 3 Spin_Up_Time 0x0003 188 186 021 Pre-fail Always - 1575 4 Start_Stop_Count 0x0032 098 098 000 Old_age Always - 2632 5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 200 200 140 Pre-fail Always - 0 7 Seek_Error_Rate 0x000f 100 253 051 Pre-fail Always - 0 9 Power_On_Hours 0x0032 096 096 000 Old_age Always - 3461 10 Spin_Retry_Count 0x0013 100 100 051 Pre-fail Always - 0 11 Calibration_Retry_Count 0x0012 100 100 051 Old_age Always - 0 12 Power_Cycle_Count 0x0032 098 098 000 Old_age Always - 2434 192 Power-Off_Retract_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 253 193 Load_Cycle_Count 0x0032 183 183 000 Old_age Always - 51534 194 Temperature_Celsius 0x0022 116 096 000 Old_age Always - 31 196 Reallocated_Event_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 0 197 Current_Pending_Sector 0x0012 200 200 000 Old_age Always - 0 198 Offline_Uncorrectable 0x0010 100 253 000 Old_age Offline - 0 199 UDMA_CRC_Error_Count 0x003e 200 200 000 Old_age Always - 0 200 Multi_Zone_Error_Rate 0x0009 100 253 051 Pre-fail Offline - 0 SMART Error Log Version: 1 ATA Error Count: 76 (device log contains only the most recent five errors) |
gard |
|
![]()
Темы:
66
Сообщения:
1169
Участник с: 15 декабря 2009
|
193 Load_Cycle_Count 0x0032 183 183 000 Old_age Always - 51534 SMART Attributes Data Structure revision number: 16 Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds: ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE 1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 200 200 051 Pre-fail Always - 0 3 Spin_Up_Time 0x0027 166 165 021 Pre-fail Always - 4691 4 Start_Stop_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 203 5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 200 200 140 Pre-fail Always - 0 7 Seek_Error_Rate 0x002e 200 200 000 Old_age Always - 0 9 Power_On_Hours 0x0032 085 085 000 Old_age Always - 11458 10 Spin_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0 11 Calibration_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0 12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 201 192 Power-Off_Retract_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 132 193 Load_Cycle_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 203 194 Temperature_Celsius 0x0022 115 104 000 Old_age Always - 32 196 Reallocated_Event_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 0 197 Current_Pending_Sector 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 0 198 Offline_Uncorrectable 0x0030 200 200 000 Old_age Offline - 0 199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 0 200 Multi_Zone_Error_Rate 0x0008 200 200 000 Old_age Offline - 0 А вот еще.. ATA Error Count: 76 (device log contains only the most recent five errors) |
carter85 |
|
Темы:
74
Сообщения:
281
Участник с: 16 октября 2011
|
не влогах всё ичсто..Raw_Read_Error_Ra Load_Cycle_Count вот что там написано дальше SMART Error Log Version: 1 ATA Error Count: 76 (device log contains only the most recent five errors) CR = Command Register [HEX] FR = Features Register [HEX] SC = Sector Count Register [HEX] SN = Sector Number Register [HEX] CL = Cylinder Low Register [HEX] CH = Cylinder High Register [HEX] DH = Device/Head Register [HEX] DC = Device Command Register [HEX] ER = Error register [HEX] ST = Status register [HEX] Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes, SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days. Error 76 occurred at disk power-on lifetime: 1098 hours (45 days + 18 hours) When the command that caused the error occurred, the device was active or idle. After command completion occurred, registers were: ER ST SC SN CL CH DH -- -- -- -- -- -- -- 01 51 18 52 ff 45 e0 Error: AMNF 24 sectors at LBA = 0x0045ff52 = 4587346 Commands leading to the command that caused the error were: CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name -- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- -------------------- 25 00 18 52 ff 45 04 00 02:44:43.237 READ DMA EXT 35 00 08 02 cb 99 01 00 02:44:43.236 WRITE DMA EXT 35 00 08 5a d9 97 01 00 02:44:43.236 WRITE DMA EXT 25 00 01 00 00 00 00 00 02:44:43.236 READ DMA EXT 35 00 01 fa 13 97 09 00 02:44:43.236 WRITE DMA EXT Error 75 occurred at disk power-on lifetime: 1098 hours (45 days + 18 hours) When the command that caused the error occurred, the device was active or idle. After command completion occurred, registers were: ER ST SC SN CL CH DH -- -- -- -- -- -- -- 01 51 18 52 ff 45 e0 Error: AMNF 24 sectors at LBA = 0x0045ff52 = 4587346 Commands leading to the command that caused the error were: CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name -- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- -------------------- 25 00 18 52 ff 45 04 00 02:44:37.607 READ DMA EXT 35 00 03 72 20 b3 02 00 02:44:37.606 WRITE DMA EXT 35 00 03 aa 90 0e 02 00 02:44:37.606 WRITE DMA EXT 35 00 38 22 d9 97 01 00 02:44:37.606 WRITE DMA EXT 25 00 01 00 00 00 00 00 02:44:37.589 READ DMA EXT Error 74 occurred at disk power-on lifetime: 1098 hours (45 days + 18 hours) When the command that caused the error occurred, the device was active or idle. After command completion occurred, registers were: ER ST SC SN CL CH DH -- -- -- -- -- -- -- 01 51 18 52 ff 45 e0 Error: AMNF 24 sectors at LBA = 0x0045ff52 = 4587346 Commands leading to the command that caused the error were: CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name -- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- -------------------- 25 00 18 52 ff 45 04 00 02:44:32.070 READ DMA EXT 35 00 15 1a 7f 2d 03 00 02:44:32.070 WRITE DMA EXT 35 00 80 ea fa e9 02 00 02:44:32.069 WRITE DMA EXT 35 00 03 72 20 b3 02 00 02:44:32.069 WRITE DMA EXT 35 00 80 a2 d8 97 01 00 02:44:32.068 WRITE DMA EXT Error 73 occurred at disk power-on lifetime: 1098 hours (45 days + 18 hours) When the command that caused the error occurred, the device was active or idle. After command completion occurred, registers were: ER ST SC SN CL CH DH -- -- -- -- -- -- -- 01 51 18 52 ff 45 e0 Error: AMNF 24 sectors at LBA = 0x0045ff52 = 4587346 Commands leading to the command that caused the error were: CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name -- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- -------------------- 25 00 18 52 ff 45 04 00 02:44:26.388 READ DMA EXT 35 00 80 52 f9 e9 02 00 02:44:25.668 WRITE DMA EXT 35 00 80 d2 f8 e9 02 00 02:44:25.667 WRITE DMA EXT 35 00 80 52 f8 e9 02 00 02:44:25.666 WRITE DMA EXT 35 00 80 d2 f7 e9 02 00 02:44:25.666 WRITE DMA EXT Error 72 occurred at disk power-on lifetime: 1098 hours (45 days + 18 hours) When the command that caused the error occurred, the device was active or idle. After command completion occurred, registers were: ER ST SC SN CL CH DH -- -- -- -- -- -- -- 01 51 18 52 ff 45 e0 Error: AMNF 24 sectors at LBA = 0x0045ff52 = 4587346 Commands leading to the command that caused the error were: CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name -- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- -------------------- 25 00 18 52 ff 45 04 00 02:42:28.246 READ DMA EXT 35 00 09 da 42 bd 01 00 02:42:28.245 WRITE DMA EXT 35 00 03 3a 97 bc 01 00 02:42:28.245 WRITE DMA EXT 35 00 08 ea 5c 98 01 00 02:42:28.245 WRITE DMA EXT 35 00 08 fa a9 97 01 00 02:42:28.245 WRITE DMA EXT SMART Self-test log structure revision number 1 No self-tests have been logged. [To run self-tests, use: smartctl -t] SMART Selective self-test log data structure revision number 1 SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS 1 0 0 Not_testing 2 0 0 Not_testing 3 0 0 Not_testing 4 0 0 Not_testing 5 0 0 Not_testing Selective self-test flags (0x0): After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk. If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay. |
carter85 |
|
Темы:
74
Сообщения:
281
Участник с: 16 октября 2011
|
Natrioа вот интересно если скажем так контроллер виноват ) ssd спасение? |
Natrio |
|
Темы:
48
Сообщения:
4771
Участник с: 08 января 2011
|
По идее, если контроллер неисправен и неизвлекаем, то спасения нет. |
killer1804 |
|
Темы:
54
Сообщения:
515
Участник с: 13 марта 2007
|
У меня была подобная проблема в стационарном компе - причиной был блок питания. У меня было 2 винта на 250 и на 500, оба сегейты, одного типа, даже в маркировке различались цифрами 250 и 500. на каждом стояло по линуксу, причем винт на 250 работал нормально, а тот что на 500 некоторое время работал нормально, а потом начинал издавать следующие звуки: Пик, вжжжж, причем этот вжжжж был такой же как при включении винта когда он разгоняется. В некоторых случаях после таких глюков винт на 500 в биосе не виделся. Я конечно не хочу гнать на Арч, но вот сейчас когда это сообщение пишу, думаю что проблема была именно в линуксе, потому что та система что стояла на винте на 250, а это арч времен кде 3,5 со старым блоком питания проблемм не было, и я этот винт гонял по всем сата-портам что у меня были, просто думается что новый линукс стал более прожорлив в плане электро-питания, и старенький блок питания не выдерживал нагрузки, давал просадки напряжения. Как бы то ни было - помогла именно замена блока питания. потому что до винта на 500 там стоял такой же на 250, кабели сата менял - не помогло. В случае с ноутом не знаю - можно ли там поменять блок питания или просто протестировать. |
gard |
|
![]()
Темы:
66
Сообщения:
1169
Участник с: 15 декабря 2009
|
В общем подтверждается истина, что в подобных мутных случаях с железом приходится все делать постепенным исключением. Вариантов первопричины болезни вагон и маленькая тележка. |
nikisch |
|
Темы:
7
Сообщения:
224
Участник с: 24 ноября 2009
|
Ну питание можно померить или попробовать вытащить все лишнее из ноута (чтоб снизить нагрузку). Тот же ssd должен работать более стабильно, т к меньше жрет, но кто его купит для теста ? ))) |